NA 與高分辨率的最佳組合
CHRocodile CLS 2 使您能夠以非常高的速度測量高斜率複雜表面,並且不會產生陰影。它幾乎可以對所有材料,甚至是難以測量的材料進行高度精確的測量,並且分辨率很高。其多功能性可確保完成各種測量任務。此外,CLS 2 有助於降低營運成本、節省時間並確保智能工廠的 100% 控制等。
合適的應用 CHRocodile CLS 2
CHRocodile CLS 2 非常適合半導體應用,包括探針卡檢測、引線鍵合檢測、凸點測量、晶圓邊緣檢查、外觀和質量檢測等,例如晶圓、玻璃或金屬以及冠狀動脈支架上的劃痕等。此外,它比其它替代(競品)器械更小更輕。
優勢
- 高速度、高精度:
憑藉 4800 萬個測量點和每秒高達 40000 行的掃描速度,CHRocodile CLS 2 非常適合對週期時間要求極高,同時需要具有極高橫向和軸向分辨率的超精確測量數據的在線質量控制應用。 - 高度靈活:
該共焦線感測器功能多樣,是各種測量任務的理想選擇,例如,形貌結構和厚度測量、成分、分層、透明材料下的表面,以及複雜的幾何形狀。即使是難以測量的材料,例如漫反射、粗糙表面、彩色、拋光或反射表面,CHRocodile CLS 2 也能高速、精確地進行測量。 - 無陰影得:
益於該線掃描儀的同軸技術,入射光和檢測到的光遵循相同的路徑,因此入射光束和檢測光束之間不存在角度。這使得其能夠測量各種幾何形狀,而不會出現三角測量中的陰影問題。 - 易於更換的探頭:
該感測器配置了三個易於更換的探頭,您可輕鬆地為每項測量任務配備合適的探頭。您可以選擇長達 12mm 的長線來快速檢測大型零件,或者選擇高達 50° 數值孔徑的較短線。 - 點密度高:
CHRocodile CLS 2 以每行 1200 個點掃描對象。結合與像素間距相當的高橫向分辨率和良好的軸向分辨率,可以獲得高密度的非冗餘信息和優質的測量結果。
技術資料
- 測量速率(行/秒):高達 40000 行/秒
- 測量範圍:680 µm 至 10600 µm,具體取決於使用的探頭
- 橫向分辨率:0.4 - 2 µm,具體取決於使用的探頭
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