測量層厚和階高的二合一解決方案
對於不透明材料的雙面厚度測量，或較厚透明材料無法用單個探頭進行厚度測量的情況，CHRocodile 2 DPS 是一種理想選擇。
優勢
- 成本效益高
對於不透明材料的臺階高度和多層測量以及厚度測量，CHRocodile 2 DPS 在一個裝置中集成了兩個單獨的測量通道。因此這種設備佔地面積更小、易於整合到生產環境中，並且可以實現較高的成本效益。 - 直接輸出結果
嵌入式處理器從兩個測量通道獲取訊號，然後同步並自動參考資料，最後顯示所需厚度或階高測量值，不需要再進行後期處理。 利用這些優勢，CHRocodile 2 DPS 成為不透明材料雙面厚度、階高測量的理想選擇，也非常適合厚度超過單個探頭測量範圍的多層厚度測量。 - 應用範圍廣泛
CHRocodile 2 DPS 與所有彩色共焦光學探頭相容，確保每通道 10kHz 的測量速率，且具有以下優勢：介面多、反射數值孔徑最高達 45°、分散表面數值孔徑最高達 80°、軸向和橫向高解析度，以及測量範圍在 100 µm 至 35 mm 之間。 - 完全符合使用者需求的光學探頭
每個單點感測器由一個控制器、一根光纖和一個光學探頭組成。我們從大量光學探頭中精心選擇，確保專門定製的解決方案能夠滿足客戶要求。點選 此處 下載彩色共焦探頭產品列表。
技術資料
- 測量速度：達每通道 10kHz/s
- 彩色測量範圍：取決於選擇的光學探頭
- 解析度：3 x 10-6 x 測量範圍上限；可按要求提高解析度
- 與外部設備同步：觸發輸入，同步輸出，5 個編碼器輸入
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